ログイン
言語:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 工学
  2. 発表論文(工学系)

Development of thickness measurement program for transparent conducting oxide thin films

http://hdl.handle.net/2298/19818
http://hdl.handle.net/2298/19818
6400e95c-3472-42ae-ad42-a0e2f45d50bb
名前 / ファイル ライセンス アクション
TSF_518_22_6330-6333_figures.pdf TSF_518_22_6330-6333_figures.pdf (112.9 kB)
TSF_518_22_6330-6333.pdf TSF_518_22_6330-6333.pdf (120.6 kB)
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2011-06-24
タイトル
タイトル Development of thickness measurement program for transparent conducting oxide thin films
言語
言語 eng
キーワード
主題 Transparent conducting oxide, Gallium doped zinc oxide, Pulsed laser deposition, Film thickness, Drude's theory, Hall effect measurement
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
著者 Mitsugi, Fumiaki

× Mitsugi, Fumiaki

WEKO 111845

Mitsugi, Fumiaki

Search repository
Matsuoka, Aya

× Matsuoka, Aya

WEKO 111846

Matsuoka, Aya

Search repository
Umeda, Yoshihiro

× Umeda, Yoshihiro

WEKO 111847

Umeda, Yoshihiro

Search repository
Ikegami, Tomoaki

× Ikegami, Tomoaki

WEKO 111848

Ikegami, Tomoaki

Search repository
別言語の著者 光木, 文秋

× 光木, 文秋

WEKO 111853

光木, 文秋

Search repository
松岡, 綾

× 松岡, 綾

WEKO 111854

松岡, 綾

Search repository
梅田, 佳宏

× 梅田, 佳宏

WEKO 111855

梅田, 佳宏

Search repository
池上, 知顯

× 池上, 知顯

WEKO 111856

池上, 知顯

Search repository
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 The gallium doped zinc oxide has been one of the candidates for the transparent conducting oxide thin film electrode. It is not suitable to use a conventional light interference method to measure the thickness of the gallium doped zinc oxide thin film because the refractive index and extinction coefficient of the thin film is unknown during the optimization of the deposition conditions. In this paper, we report on the details of the film thickness program which uses the measured optical and electric properties and relationship between the plasma frequency and the optical constant of the film. The obtained film thickness of the prepared gallium doped zinc oxide thin film using the program was comparable with thicknesses measured by a cross-sectional analysis of the atomic force microscopy and the surface profiler. Moreover, the optical constant of refractive index and extinction coefficient of the film could also be estimated.
書誌情報 Thin Solid Films

巻 518, 号 22, p. 6330-6333, 発行年 2010-09-01
DOI
関連タイプ isVersionOf
関連識別子 10.1016/j.tsf.2010.03.047
権利
権利情報 © 2010 Elsevier B.V.
情報源(ISSN)
関連名称 00406090
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 application/pdf
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 application/pdf
形態
値 120589 bytes
形態
値 112909 bytes
著者版フラグ
出版タイプ AM
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 541
出版者
出版者 Elsevier B.V.
資源タイプ
内容記述タイプ Other
内容記述 論文(Article)
資源タイプ・ローカル
値 雑誌掲載論文
資源タイプ・NII
値 Journal Article
資源タイプ・DCMI
値 text
資源タイプ・ローカル表示コード
値 01
URL
内容記述タイプ Other
内容記述 http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609010003470
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2023-06-19 18:18:10.623415
Show All versions

Share

Mendeley Twitter Facebook Print Addthis

Cite as

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX

Confirm


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3