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  1. 工学
  2. 報告会(工学系)
  3. 技術部 技術報告会

走査型電子顕微鏡(SEM)の基本原理と結像条件の測定

http://hdl.handle.net/2298/24499
http://hdl.handle.net/2298/24499
29f57a1c-8013-41b9-a605-2a49c80575d3
名前 / ファイル ライセンス アクション
E-1.pdf E-1.pdf (1.3 MB)
Item type 会議発表用資料 / Presentation(1)
公開日 2012-05-10
タイトル
タイトル 走査型電子顕微鏡(SEM)の基本原理と結像条件の測定
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ conference object
著者 中村, 光弘

× 中村, 光弘

WEKO 118140

中村, 光弘

Search repository
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 平成22年度熊本大学総合技術研究会,集中技術交流 E.走査型電子顕微鏡の新展開(J会場)
書誌情報 発行日 2011-03-18
フォーマット
内容記述 application/pdf
形態
1306057 bytes
著者版フラグ
出版タイプ AM
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 507
タイトル(ヨミ)
その他のタイトル ソウサガタ デンシ ケンビキョウ SEM ノ キホン ゲンリ ト ケツゾウ ジョウケン ノ ソクテイ
出版者
出版者 熊本大学工学部技術部
資源タイプ
内容記述 発表資料
資源タイプ・ローカル
発表資料
資源タイプ・NII
Presentation
資源タイプ・DCMI
text
資源タイプ・ローカル表示コード
05
URI
http://hdl.handle.net/2298/24499
URL
内容記述タイプ Other
内容記述 http://www.tech.eng.kumamoto-u.ac.jp/kumamoto2011/
コメント
所属:東京大学工学部・工学系研究科・技術部・マテリアル工学専攻
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Ver.1 2023-06-19 17:53:01.004859
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