WEKO3
アイテム
走査型電子顕微鏡(SEM)の基本原理と結像条件の測定
http://hdl.handle.net/2298/24499
http://hdl.handle.net/2298/2449929f57a1c-8013-41b9-a605-2a49c80575d3
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
|
|
|
| Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2012-05-10 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 走査型電子顕微鏡(SEM)の基本原理と結像条件の測定 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ | conference object | |||||
| 著者 |
中村, 光弘
× 中村, 光弘 |
|||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 平成22年度熊本大学総合技術研究会,集中技術交流 E.走査型電子顕微鏡の新展開(J会場) | |||||
| 書誌情報 | 発行日 2011-03-18 | |||||
| フォーマット | ||||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||
| 形態 | ||||||
| 1306057 bytes | ||||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | AM | |||||
| 日本十進分類法 | ||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||
| 主題 | 507 | |||||
| タイトル(ヨミ) | ||||||
| その他のタイトル | ソウサガタ デンシ ケンビキョウ SEM ノ キホン ゲンリ ト ケツゾウ ジョウケン ノ ソクテイ | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 熊本大学工学部技術部 | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 内容記述 | 発表資料 | |||||
| 資源タイプ・ローカル | ||||||
| 発表資料 | ||||||
| 資源タイプ・NII | ||||||
| Presentation | ||||||
| 資源タイプ・DCMI | ||||||
| text | ||||||
| 資源タイプ・ローカル表示コード | ||||||
| 05 | ||||||
| URI | ||||||
| http://hdl.handle.net/2298/24499 | ||||||
| URL | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | http://www.tech.eng.kumamoto-u.ac.jp/kumamoto2011/ | |||||
| コメント | ||||||
| 所属:東京大学工学部・工学系研究科・技術部・マテリアル工学専攻 | ||||||