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アイテム
走査電子顕微鏡で薄膜試料の透過二次電子像を観察する試料ホルダの改良
http://hdl.handle.net/2298/24500
http://hdl.handle.net/2298/24500cfd81bd6-eb9a-4883-9e36-69354ed1c4fa
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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![]() |
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Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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公開日 | 2012-05-10 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 走査電子顕微鏡で薄膜試料の透過二次電子像を観察する試料ホルダの改良 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ | conference object | |||||
著者 |
村中, 祥悟
× 村中, 祥悟 |
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内容記述 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 平成22年度熊本大学総合技術研究会,集中技術交流 E.走査型電子顕微鏡の新展開(J会場) | |||||
書誌情報 | 発行日 2011-03-18 | |||||
フォーマット | ||||||
内容記述 | application/pdf | |||||
形態 | ||||||
2178130 bytes | ||||||
著者版フラグ | ||||||
出版タイプ | AM | |||||
日本十進分類法 | ||||||
主題Scheme | NDC | |||||
主題 | 507 | |||||
タイトル(ヨミ) | ||||||
その他のタイトル | ソウサ デンシ ケンビキョウ デ ハクマク シリョウ ノ トウカ ニジ デンシゾウ オ カンサツ スル シリョウ ホルダ ノ カイリョウ | |||||
出版者 | ||||||
出版者 | 熊本大学工学部技術部 | |||||
資源タイプ | ||||||
内容記述 | 発表資料 | |||||
資源タイプ・ローカル | ||||||
発表資料 | ||||||
資源タイプ・NII | ||||||
Presentation | ||||||
資源タイプ・DCMI | ||||||
text | ||||||
資源タイプ・ローカル表示コード | ||||||
05 | ||||||
URI | ||||||
http://hdl.handle.net/2298/24500 | ||||||
URL | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | http://www.tech.eng.kumamoto-u.ac.jp/kumamoto2011/ | |||||
コメント | ||||||
所属:浜松医科大学・実験実習機器センター |