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  1. 理学
  2. 発表論文(理学系)

Anomalous X-ray Scattering on Semiconducting Glasses at ESRF: Review in Recent Fifteen Years

http://hdl.handle.net/2298/38167
http://hdl.handle.net/2298/38167
8216e9fa-9c07-4306-ac85-b1797e720665
名前 / ファイル ライセンス アクション
zpch230_313-338.pdf zpch230_313-338.pdf (1.5 MB)
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2017-09-19
タイトル
タイトル Anomalous X-ray Scattering on Semiconducting Glasses at ESRF: Review in Recent Fifteen Years
言語
言語 eng
キーワード
主題 Atomic Structure, Non-Crystalline Materials, Partial Structure, Synchrotron Radiation, Chalcogenide Glasses
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
著者 Hosokawa, Shinya

× Hosokawa, Shinya

WEKO 139439

Hosokawa, Shinya

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Rüdiger Stellhorn, Jens

× Rüdiger Stellhorn, Jens

WEKO 139440

Rüdiger Stellhorn, Jens

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Pilgrim, Wolf-Christian

× Pilgrim, Wolf-Christian

WEKO 139441

Pilgrim, Wolf-Christian

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Bérar, Jean-François

× Bérar, Jean-François

WEKO 139442

Bérar, Jean-François

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別言語の著者 細川, 伸也

× 細川, 伸也

WEKO 155700

en Hosokawa, Shinya

ja 細川, 伸也
ISNI

ja-Kana ホソカワ, シンヤ

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内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 The most difficult issue for the structural characterizations for non-crystalline multi-component materials is to determine partial structures because n(n+1)/2 scattering experiments with different scattering cross-sections are necessary for n-component materials. More than three decades have already passed through since anomalous X-ray scattering (AXS) using synchrotron radiation (SR) was expected as a promising tool for investigating partial structures. Compared with a related method, X-ray absorption fine structure, however, AXS is still rarely used owing to difficulties in the experiments and data analyses. We have developed a new detecting system, which can fully utilize intense X-ray fluxes from third-generation SR facilities. Using this detecting system, we have carried out many AXS experiments at the beamline BM02 of the ESRF on several semiconducting glasses. The obtained differential structure factors were analyzed using reverse Monte Carlo modeling to draw three-dimensional atomic configurations. In this article, we review results of semiconducting glasses, and describe the structure-property relations in these glasses.
書誌情報 Zeitschrift für Physikalische Chemie

巻 230, 号 3, p. 313-338, 発行年 2016-03
ISSN
収録物識別子 09429352
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
関連識別子 https://doi.org/10.1515/zpch-2015-0653
権利
権利情報 © 2011–2017 by Walter de Gruyter GmbH
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 application/pdf
形態
値 1486027 bytes
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 459.9
出版者
出版者 DE GRUYTER
資源タイプ
内容記述タイプ Other
内容記述 論文(Article)
資源タイプ・ローカル
値 雑誌掲載論文
資源タイプ・NII
値 Journal Article
資源タイプ・DCMI
値 text
資源タイプ・ローカル表示コード
値 01
URL
内容記述タイプ Other
内容記述 https://www.degruyter.com/view/j/zpch.2016.230.issue-3/zpch-2015-0653/zpch-2015-0653.xml?format=INT
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Ver.1 2023-06-19 17:05:55.136947
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